2600B Series
고속 임베디드 프로그래밍
단일 또는 듀얼 채널 옵션
소싱 범위 : 최대 10A 펄스, 200V, 200W
측정 범위 : 최하 0.1fA, 100nV

Keithley의 시리즈 2600B 시스템 SMU 장비는 고도로 자동화된 생산 테스트 애플리케이션을 위한 업계 표준 전류-전압 소스 및 측정 솔루션입니다. 듀얼 및 단일 채널 모델 모두 정밀 전원 공급기, 실제 전류 소스, DMM 및 펄스 발생 기능이 있는 전자 부하기를 긴밀하게 통합합니다. 또한 TSP® 기술은 자동화된 시스템 애플리케이션을 위한 완벽한 테스트 프로그램을 실행하며, TSP-LINK® 기술은 대용량 병렬 테스트를 위해 최대 64개의 채널을 데이지 체인 방식으로 연결할 수 있습니다.


 

 


 

 
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 설치 면적을 그대로 유지하면서 완벽한 생산 테스트 수행

 

동일한 설치 면적 내에서 광범위한 동적 소스와 측정의 두 개의 완전히 격리된 채널로 모든 생산 테스트 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 각 40W 채널은 6 1/2 Digits의 정밀 분해능 소스를 제공하며 펄스 폭 100㎲ 미만 및 정착된 값의 0.1% 내에서 10A 펄스에서 0.1fA 및 200V에서 100nV까지 측정합니다.

 

주요 특징

  • 동일한 설치 면적에서 최대 2개의 채널
  • 전압 및 전류의 가장 넓은 동적 범위
  • DC 생산 테스트 기능을 확장하는 고정밀 100㎲ 펄스
 
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 탁월한 생산 처리량을 위한 임베디드 스크립트

 

TSP®(Test Script Processor) 기술은 SMU 장비 내에 완벽한 테스트 프로그램을 포함하고 실행하여 업계 최고의 성능을 제공합니다.

 

주요 특징

  • 시간이 오래 걸리는 PC와의 버스 통신 제거
  • 고급 데이터 처리 및 흐름 제어
  • 다기능 프로버/처리기 제어
 
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 메인프렘임 없이 뛰어난 시스템 성능

 

TSP-Link® 기술은 메인프레임 없이 고속, 핀별 SMU 병렬 테스트를 위해 최대 64개의 채널을 확장할 수 있습니다. 모든 채널은 500ns 미만의 속도로 동시에 독립적으로 제어됩니다.

 

주요 특징

  • 500ns 미만의 채널 간 동기화 지원
  • 최대 32개의 SMU 또는 64개의 독립 SMU 채널
  • 테스트 요구 사항 변경 시 쉽게 재구성 가능
 
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 생산을 위한 최상의 저전류 성능

 

2635B 및 2636B SMU는 최저 100pA 범위에서 0.1fA, 10-16 분해능을 제공하여 초저 레벨 샘플 특성화에 대한 걱정을 줄여주고 성공적인 생산을 보장합니다.

 

주요 특징

  • 가장 낮은 전류 범위에서 7배 빠른 정착 시간
  • 시장에서 최상의 저전류 분해능
  • 직접적인 3축 연결로 설정이 간단해짐
 
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 자세히 알아 보면 보다 자세한 정보를 파악할 수 있습니다.

 

SMU(Source Measure Unit) 자습서 학습 센터는 Keithley SMU 및 기타 제품에 대한 풍부한 정보를 일체형의 편리한 위치에 제공합니다. 텍트로닉스는 당사가 제공하는 애플리케이션 및 산업과 관련된 다양한 콘텐츠에 대한 링크를 제공합니다.

 


 

 
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 레이저 다이오드(VCSEL) 생산 테스트

 

레이저 다이오드(LD)생산 테스트를 위한 업계 최고의 DC 테스트 시스템은 레이저 다오오드 모듈, 포토 다이오드 전류의 전류 소싱 및 전압-전류 모니터링에 고속 및 고정밀 SMU를 사용합니다. SMU는 높은 시스템 동기화 및 처리량을 제공하는 가장 경제적인 LIV장비입니다.

 

주요 특징

  • 최대 10A 및 100㎲의 프로그래밍 가능 전류 소스
  • 100nV 및 0.1fA에서 전압 및 전류 측정 분해능
  • 내장된 TSP 처리 기능으로 PC 장비 버스 통신이 줄어듬
 
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 LED의 간소화된 I/V 특성

 

2600B 시리즈 SMU는 LED DC 특성 및 생산 테스트를 위한 업계 선도적인 장비로, 다양한 테스트 요구 사항에 대해 0.02%의 정확도로 전압 및 전류 측정과 함께 전류 또는 전압 소스를 구성할 수 있습니다. 또한 TSP®(Test Script Processor) 기술은 처리량 이점을 제공합니다.

 

주요 특징

  • 최대 10A 및 100㎲의 프로그래밍 가능 전류 소스
  • 100nV 및 0.1fA에서 전압 및 전류 측정 분해능
  • 내장된 TSP 처리 기능으로 PC 장비 버스 통신이 줄어듬
 
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 IDDQ 테스트 및 대기 전류 테스트

 

Keithley의 2636B/35B 모델은 생산 환경의 처리량 요구 사항을 위해 설계된 업계 최고의 저전류 감도를 지원합니다. 시간이 지남에 따라 고장을 일으킬 수 있는 단락된 게이트 산호물 및 기타 결함을 검사하기 위해 CMOS 집적 회로 및 전자 제품 제조업체의 대기 전류(누설 전류라고도 함) 또는 IDDQ를 측정하는데 적합합니다.

 

주요 특징

  • 0.1fA 분해능
  • 경쟁업체 제품보다 7배 빠른 정착 시간
 
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 고도로 동기화된 다중 핀, 다중 채널 생산 시스템

(메인프레임 없음)

 

Keithley의 시리즈 2600B 시스테 SourceMeter®SMU 장비는 랙엔스택(rack-and-stack) 장비의 확장성과 유연성을 TSP 및 TSP-Link 기술을 사용하여 메인프레임 기반 시스템의 통합 및 높은 처리량과 결합하여 제조 공간을 줄여주고 테스트 비용을 절감할 수 있습니다.

 

주요 특징

  • 내장된 TSP 처리 기능으로 PC 장비 버스 통신이 줄어듬
  • TSP-Link 기술을 통해 다른 Keithley TSP 장비와 500ns 동기화 시 최대 32개의 장비 연결

 



 모델  채널  최대 전류 소스/측정 범위  최대 전압 소스/측정 범위  측정 분해능(전류/전압)  전원
 2601B  1  10A  40V  100fA/100nV  200W
 2611B  1  10A  200V  100fA/100nV  200W
 2604B  2  10A  40V  100fA/100nV  200W
 2614B  2  10A  200V  100fA/100nV  200W
 2602B  2  10A  40V  100fA/100nV  200W
 2612B  2  10A  200V  100fA/100nV  200W
 2635B  1  10A  200V  0.1fA/100nV  200W
 2634B  2  10A  200V  1fA/100nV  200W
 2636B  2  10A  200V  0.1fA/100nV  200W